因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

貴金屬純度測定包含黃金（Au）、白銀（Ag）、鉑族金屬（Pt、Pd）等主成分含量分析；合金材料需同步測定銅（Cu）、鋅（Zn）、鎳（Ni）等輔料配比；雜質(zhì)元素檢測涵蓋鉛（Pb）、鎘（Cd）、汞（Hg）等8種有害物質(zhì)限量控制；特殊制品需進行表面鍍層厚度與成分分層測試。

文物類貴金屬需實施無損成分鑒定；工業(yè)用觸點材料須測定導(dǎo)電率與成分相關(guān)性；珠寶首飾類重點驗證貴金屬印記標(biāo)識符合性；投資類金條執(zhí)行質(zhì)量偏差與尺寸公差雙重驗證。

檢測范圍

珠寶首飾類：足金/千足金飾品、K金鑲嵌件、銀質(zhì)擺件及925銀制品；投資交易類：標(biāo)準(zhǔn)金錠、銀幣、紀(jì)念章及貴金屬衍生品；工業(yè)材料類：電子觸點用金銀合金絲、真空鍍膜靶材、牙科用貴金屬鑄造件；文物考古類：古代金銀器皿、錢幣及出土金屬文物。

特殊形態(tài)材料包含粉末冶金制品、納米級貴金屬涂層、復(fù)合型雙金屬板材；再生資源類涵蓋貴金屬廢料提純物、電鍍廢液回收料及催化劑殘渣。

檢測方法

X射線熒光光譜法（GB/T 18043）適用于表面成分快速篩查；火試金法（GB/T 9288）作為仲裁方法用于高精度成色分析；電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）可檢出ppb級痕量元素；密度法配合阿基米德原理驗證實體材料致密度。

掃描電鏡-能譜聯(lián)用技術(shù)（SEM-EDS）用于微觀結(jié)構(gòu)成分分析；輝光放電質(zhì)譜法（GD-MS）實現(xiàn)深度剖面檢測；庫侖法測定銀制品表面氧化層厚度；激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）支持三維立體成分測繪。

檢測儀器

波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）配備4kW銠靶射線管；全自動火試金分析系統(tǒng)包含高溫熔融爐與精密分金天平；電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES）配置雙向觀測系統(tǒng)；顯微紅外光譜儀用于有機物污染鑒定。

超微量天平精度達0.001mg；惰性氣體保護熔樣機防止樣品氧化；三維坐標(biāo)測量儀執(zhí)行幾何尺寸驗證；非接觸式激光測厚儀滿足鍍層厚度測定需求；同步熱分析儀同步獲取成分與熱力學(xué)參數(shù)。

實驗室環(huán)境實行溫濕度雙參數(shù)控制（23±1℃，45%RH±5%），配備Class 100潔凈操作臺防止交叉污染。所有儀器均通過CNAS量值溯源體系認(rèn)證，標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)覆蓋GBW系列國家一級標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認(rèn)信息是否無誤

7、確認(rèn)完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件