因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見(jiàn)諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

陶瓷成分快速檢測(cè)涵蓋三大核心項(xiàng)目：基礎(chǔ)化學(xué)成分分析、礦物相鑒定及微量元素測(cè)定。基礎(chǔ)化學(xué)成分分析聚焦SiO?、Al?O?、K?O、Na?O等主量氧化物含量測(cè)定；礦物相鑒定通過(guò)物相結(jié)構(gòu)解析確定石英、莫來(lái)石、長(zhǎng)石等晶相比例；微量元素檢測(cè)重點(diǎn)監(jiān)控Pb、Cd、Cr等重金屬元素及Li、B等助熔劑成分。

特殊功能陶瓷需增加專(zhuān)項(xiàng)檢測(cè)：壓電陶瓷須測(cè)定BaTiO?基體純度與摻雜元素分布；生物陶瓷需量化羥基磷灰石結(jié)晶度與Ca/P摩爾比；高溫結(jié)構(gòu)陶瓷則需精確分析SiC/Si3N4復(fù)合相含量及晶界相組成。

檢測(cè)范圍

本檢測(cè)體系適用于四大類(lèi)陶瓷材料：傳統(tǒng)硅酸鹽陶瓷（日用瓷、建筑陶瓷）、先進(jìn)結(jié)構(gòu)陶瓷（發(fā)動(dòng)機(jī)部件、切削工具）、功能陶瓷（介電/壓電/磁性材料）及生物醫(yī)用陶瓷（人工關(guān)節(jié)/牙科植入體）。具體涵蓋原料坯體、釉料配方、成品器件等全流程樣本。

特殊應(yīng)用場(chǎng)景擴(kuò)展至考古文物修復(fù)領(lǐng)域，可對(duì)古陶瓷胎釉成分進(jìn)行無(wú)損分析；在工業(yè)失效分析中支持破損件的成分溯源；同時(shí)滿足歐盟REACH法規(guī)、FDA食品接觸材料等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)要求。

檢測(cè)方法

X射線熒光光譜法（XRF）作為基礎(chǔ)方法，可在10分鐘內(nèi)完成固體樣品主量元素半定量分析；電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）實(shí)現(xiàn)ppb級(jí)微量元素精確測(cè)定；X射線衍射（XRD）用于礦物相定性與定量分析。

針對(duì)特殊需求采用聯(lián)用技術(shù)：熱重-差示掃描量熱法（TG-DSC）同步分析燒成過(guò)程物相轉(zhuǎn)變；激光剝蝕等離子體質(zhì)譜（LA-ICP-MS）實(shí)現(xiàn)微區(qū)元素分布成像；顯微拉曼光譜適用于釉層表面非晶態(tài)結(jié)構(gòu)表征。

檢測(cè)儀器

標(biāo)準(zhǔn)配置包含波長(zhǎng)色散型XRF光譜儀（如Rigaku ZSX Primus IV）、多道ICP-OES（PerkinElmer Avio 500）及多功能X射線衍射儀（Bruker D8 ADVANCE）。輔助設(shè)備配備熱分析系統(tǒng)（NETZSCH STA 449 F3）、場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡（FE-SEM）搭配能譜儀（EDS）。

高端實(shí)驗(yàn)室配置同步輻射光源微區(qū)XRF（SR-μXRF）實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)元素分布分析；飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）用于表面痕量雜質(zhì)檢測(cè)；全自動(dòng)樣品制備系統(tǒng)（Herzog HTS 120）保障批量處理效率。

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫(xiě)報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件